สัมมนา : เทคโนโลยี ZEISS scatterControl จะยกระดับภาพ CT ที่ได้จาก X-ray ของคุณได้อย่างไร

วันพุธ 26 กุมภาพันธ์ 2025 | 10:00 น. - 16.30 น. | ZEISS Quality Excellence Center จ.สมุทรปราการ

การตรวจสอบชิ้นงานโดยไม่ทำลายนั้น มีอยู่หลายวิธี หนึ่งในวิธีตรวจสอบนั้น คือการใช้ X-ray ในการตรวจสอบชิ้นงานโดยการทำ CT Scan แต่ในการทำ CT Scan นั้น อาจมีอุปสรรคบางอย่าง เช่นวัสดุที่จะเช็คนั้นเป็นวัสดุที่มีความหนาแน่นสูง ภาพที่ได้จากการ CT อาจเกิดการแตกฟุ้งกระจายเป็นลักษณะคล้ายฝุ่น หรือที่เราเรียกว่าปรากฏการณ์ scattering ซึ่งจะทำให้ผลที่ได้จากการทำ CT Scan นั้นผิดเพี้ยนจากสิ่งที่ควรเป็น นับเป็นอุปสรรคในการเช็คชิ้นงานประเภทเหล็ก หรือ ชิ้นงานอะลูมิเนียมที่มีความหนาแน่นสูง

ZEISS ขออนุญาตนำเสนอเทคโนโลยีใหม่ของเรา ZEISS scatterControl!

เรามั่นใจว่าเทคโนโลยีของเรา สามารถช่วยแก้ไขอุปสรรคเหล่านี้ได้ และ ทำให้ภาพ CT ที่ได้นั้น คม ชัด ตรงกับชิ้นงานที่ทำ CT Scan และทำให้งานประเภทการเช็ค และงานวัดขนาดชิ้นงาน เป็นไปอย่างราบรื่น ถูกต้อง แม่นยำ และสร้างความเชื่อมั่นให้กับลูกค้าของคุณ!

เทคโนโลยี ZEISS scatterControl เป็นส่วนเสริมของเครื่อง ZEISS Metrotom 1500 225kV G3 สามารถนำไปติดตั้งในเครื่องที่ใช้งานปัจจุบัน หรือ ติดตั้งมาพร้อมกับเครื่องใหม่ โดยการทำงานของส่วนเสริมนี้ สามารถทำงานควบคู่กับซอฟต์แวร์
Metrotom OS ในการผนวกการประมวลผล เพื่อให้ได้ภาพ CT ที่ดีที่สุด

ถ้าคุณอยากทราบว่า เทคโนโลยีของเราทำงานอย่างไร สามารถลงทะเบียนเพื่อเข้าร่วม workshop กับเราได้

ZEISS ยินดีรับคำท้าทายในการทำ CT scan ของชิ้นงานคุณ ด้วยเครื่อง ZEISS Metrotom 1500 225kV G3 และ ZEISS scatterControl ของเรา โดยผู้ที่เข้าร่วมworkshop สามารถเตรียมชิ้นงานตัวอย่างของท่านมาให้เราเช็คหน้างาน พร้อมทำ report ให้ ฟรี!*

*หากไม่สามารถทำได้ทันภายในเวลางานสัมมนา ผู้ที่สนใจสามารถฝากชิ้นงานตัวอย่างไว้ที่เราได้ เราจะส่งชิ้นงานตัวอย่างคืนพร้อมผลการทำ CT scan หลังกระบวนการ scan เสร็จสิ้นตามคิวของผู้ที่สนใจ

สำหรับผู้ที่สนใจลงทะเบียนเข้าร่วมงานสามารถเลื่อนไปด้านล่างสุด เพื่อกรอกข้อมูลในแบบฟอร์มของเราได้เลย